ANSI/ASME BPVCRevision Addenda-2002 ASME锅炉和压力容器编码(9/14/01mtg)
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来源:标准资料网
【英文标准名称】:ASMEBoilerandPressureVesselCode(9/14/01mtg)
【原文标准名称】:ASME锅炉和压力容器编码(9/14/01mtg)
【标准号】:ANSI/ASMEBPVCRevisionAddenda-2002
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:2002
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:安全工程;核电厂;压力容器
【英文主题词】:safetyengineering;pressurevessels;nuclearpowerplants
【摘要】:
【中国标准分类号】:J98
【国际标准分类号】:27_120_20
【页数】:
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Specificationfortestmethodsfortransparentmaterialsforaircraftglazing-Determinationofopticaldeviation
【原文标准名称】:飞机舷窗玻璃用透明材料试验方法规范
【标准号】:BSEN2155-7-1997
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:1997-11-15
【实施或试行日期】:1997-11-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验条件;角(几何学);运载工具窗;光学测量;飞行器部件;门窗玻璃;透明度;折射;缺陷与故障
【英文主题词】:Aerospacetransport;Airtransport;Aircraft;Angles(geometry);Beamsoflight;Definition;Definitions;Deflection;Distortion;Distortionmeasurement;Englishlanguage;Germanlanguage;Glass;Glazing;Materials;Multilingual;Opticaldeviation;Opticalmeasurement;Opticalpropertiesofmaterials;Optics;Plastics;Properties;Spacetransport;Testequipment;Testing;Transparencies;Transparency
【摘要】:Thisstandardspecifiesthemethodusedforthedeterminationofopticaldeviationcausedtoabeamoflightpassingthroughatransparentelementmaterialperpendiculartotheopticalaxisofthesystem.
【中国标准分类号】:V10
【国际标准分类号】:49_045
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级ＣＳ１０型硅Ｎ沟道耗尽型场效应晶体管详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor discrete device-Detail specification for silicon N-channel deplition mode field-effect transistor of Type CS10 GP,GT and GCT classes |
| 中标分类： |
综合 >>
标准化管理与一般规定 >>
技术管理 |
| 发布部门： | 中国电子工业总公司 |
| 发布日期： | 1992-02-01 |
| 实施日期： | 1992-05-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 提出单位： | 中国电子工业总公司科技质量局 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 王长福、吴志龙、张宗国、刘美英 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1992-04-01 |
| 页数： | 10页 |
适用范围
本规范规定了CS10型硅N沟道结型场效应晶体管（以下简称器件)的详细要求，该种器件按GJB33-85《半导体分立器件总规范》的规定，提供产品保证的三个等级（GP、GT和GCT级)。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
GB 4586-1984 场效应晶体管测试方法
GB 7581-1987 半导体分立器件外形尺寸
GJB 33-1985 半导体分立器件总规范
GJB 128-1986 半导体分立器件试验方法
所属分类： 综合 标准化管理与一般规定 技术管理
